<video id="fz3vv"><big id="fz3vv"><th id="fz3vv"></th></big></video>

        <var id="fz3vv"><thead id="fz3vv"></thead></var>
        <ruby id="fz3vv"><span id="fz3vv"><span id="fz3vv"></span></span></ruby>

            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知

            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知

            第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班

            表面分析技術被廣泛的應用材料研究,包括多項國家重視且在國際中的重要應用,如有機發光體(OLED)、陽能電池、鋰電池、燃料電池、石墨稀、食品包裝安全等等的項目上,不同領域的材料研究都需要使用到表面分析的手段去改善和增進其性能與安全性。表面分析技術中光電子能譜(XPS)、紫外光光電子能譜(UPS)和Tof-SIMS飛行時間二次離子質譜分別可以提供材料上的關鍵信息。XPS的分析能力上,高空間分辨(<10um)能力在現今研究上顯然非常重要,而再配合上團簇離子源,更可以幾乎無損的離子濺射達到多層有機結構材料的深度分析,推進了表面分析的技術和應用范圍。此外,XPS配備上樣品傳輸管可以讓樣品在大氣以外的環境傳遞,極大的解決了如鋰電池等的氣敏樣品在分析之前已經改質的問題。XPS配備上UPS也可以提供樣品在價帶譜中非常重要的資訊,而Tof-SIMS作為在中國相對比較新的分析技術,更可以帶給我們更廣的材料訊息以至獲得更多的科研成果。

            本次會議由清華大學深圳研究生院材料與器件檢測中心主辦,ULVAC-PHI公司和其在中國的代表公司PHI (China) 高德英特(北京)科技有限公司、先進電池與材料產學研技術創新聯盟共同協辦,深圳市清新電源研究院承辦。研討會邀請了ULVAC-PHI原廠科學家對表面分析最新的技術和應用作出講解,并邀請了各材料領域的專家進行現場交流。以下為本次研討會的詳細安排。

            1
            會議時間

            2018年3月22日上午9:00 至下午18:00

            2018年3月23日上午9:00 至 下午17:00

            2
            會議地點

            地址:清華大學深圳研究生院能源環境大樓一樓報告廳

            3
            會議內容

            – XPS 光電子能譜原理及其特性在分析結果上的影響

            – XPS實驗技巧及如何獲得正確和最優的數據

            – XPS 數據處理高級培訓(光電材料、儲能材料、生物材料等領域)

            – 分峰擬合、最小二乘法,目標因子法等在XPS數據處理的應用

            – UPS紫外光譜實驗方法及數據處理與及其應用實例

            – 如何利用多個數據庫協助XPS的數據處理

            – Tof-SIMS 飛行時間二次離子質譜原理及強大應用

            – MSMS Tof 串聯質譜帶來在 Tof-SIMS 表面分析技術的突破

            – Tof-SIMS Tandem MS的廣大應用能力與例子

            4
            報告嘉賓(持續更新中…)

            Dr. Hsun-Yun Chang 張熏勻

            科學家,分析實驗室, ULVAC-PHI.Inc.

            Email: Hsun-yun_chang@ulvac.com

            張熏勻博士在2015年于臺灣中央研究院與清華大學之國際研究生學程取得博士學位。于博士攻讀期間,專攻于飛行時間二次離子質譜儀于生物領域的應用, 以及光電子能譜與俄歇電子能譜上多種光電相關的應用。并多次與其他機構進行表面分析技術之合作計劃,合作對象包含美國西儲大學、臺灣大學醫學院、清華大學等等,涉及范圍包含生物樣品與材料、OLED、太陽能電池等的表面分析。畢業后在中央研究院進行博士后研究一年,即進入日本ULVAC-PHI公司工作。在ULVAC-PHI擔任分析實驗室科學家,負責飛行時間二次離子質譜儀(ToF-SIMS)與X射線光電子能譜儀(XPS)的相關研究, 應用示范及培訓等等。

            Mr. Wensly Yip 葉上遠

            高德英特中國區執行總監

            PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司

            Email: wensly.yip@coretechint.com

            Mr. Wensly畢業于南非開普敦大學電動與電子工程學系,擁有超過15年在表面分析相關領域的經驗,當中包括在ULVAC-PHI日本總公司工作,曾經參與了ULVAC-PHI表面分析儀器的詳細儀器設計與開發,表面分析應用的技巧訓練,系統的售后服務包括儀器安裝、故障診斷和優化以達到分析應用上和用戶使用的最大需求。此外,Wensly也負責對包括半導體,硬盤媒體,電子封裝業,大學和研發研究機構客戶和用戶提供現場操作和高級的應用訓練與支持。Wensly曾在亞洲各個地區如中國大陸、臺灣、新加坡、泰國、菲律賓和馬來西亞等地主講過多次的應用研討會及包括對AES、XPS和Tof-SIMS基本原理與高階應用相關的用戶培訓,并給各種工業用戶在樣品分析上提供支援和培訓。目前,Wensly為高德公司在中國區的銷售和售后部的總執行總監,擅長包括X射線光電子能譜儀(XPS),俄歇電子能譜(AES)和飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)相關的表面分析技術。

            5
            注冊報名

            一、報名方式熱誠歡迎相關科研單位人士、企業同仁參會和交流學習。本屆會議名額有限,請點擊文末“閱讀原文”盡快填寫信息完成注冊繳費。

            會議咨詢

            聯 系 人:李亞

            聯系電話:18616930587

            郵箱地址:li.ya@sz.tsinghua.edu.cn

            二、繳費方式

            聯 系 人:李紅真

            聯系電話:18617191673

            郵箱地址:li.hongzhen@sztspi.com

            參會類型

            學生代表

            大學和科研機構代表

            企業代表

            參會費用

            1000(RMB)

            1600(RMB)

            2000(RMB)

            1)銀行轉賬

            收款單位賬號信息:

            帳 號:20000033500900014260089

            戶 名:深圳市清新電源研究院

            開戶行:北京銀行股份有限公司深圳軟件園社區支行

            2)微信支付寶轉賬:掃描下方二維碼

            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知

            3)付費時備注“第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班+付費人姓名+單位”

            三、現場報名繳費:本次會議嚴格限制現場繳費名額數,初步設定為10名,額滿為止,如確定需現場繳費需要提前注冊并繳納30%定金。轉賬時請注明“現場繳納定金”。(請微信關注公眾號“材料與器件檢測中心”,了解實時更新的最新會議資訊

            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知

            6
            往屆回顧

            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知


            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知

            清新電源編輯中心招聘中,猛戳以下鏈接加入我們

            http://cn.mikecrm.com/83e4j6y

            歡迎讀者加入…

            清新電源官方QQ:86931315

            ? 添加備注:姓名+單位+研究方向

            ? 清新電源-文獻互助群 608599704

            ? 清新電源-學術交流群 332591118

            清華大學深圳研究生院第二屆表面分析技術研討會暨XPS高階應用培訓班 | 第一輪通知

            本文由:TSPI-Ye投稿,不代表清新電源立場,如若轉載,請注明原始出處:http://www.bisom.cn/archives/5101.html

            發表評論

            登錄后才能評論